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讲课人:
李秋立 研究员
课题:
SIMS原位同位素分析技术要点
简介:
离子探针,顾名思义是用离子作为轰击源,如探针一样进行微区测试,所检测的对象是代表样品信息的离子,相对轰击源的一次离子而言属于二次离子,因而又称为“二次离子质谱仪”。本课程将从离子探针的发展历史、基本原理和优缺点入手,然后介绍离子探针分析测试过程中的影响因素(例如样品靶制备、分馏影响因素和标准物质瓶颈等),最后介绍离子探针在非传统稳定同位素分析领域的进展(包括Li、Si和Mg同位素)。